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X-RAY 检测机
VERTEX X射线检测系统
VJ Electronix Vertex A系列功能强大，配置灵活，检测区域覆盖面积广（20”×24”）,可实现手动和自动的X光检测。板上样品导航功能提供了更为简单精确的定位性能，使Vertex A系列高度适用于生产线及其它各种应用。
可供选择的X光源（75kV,90kV,130kV,150kV）及探测器（2”/4”/6”图像增强器或平板数字探测器）为您提供了多样性的X射线检测性能。
苏州和谐电子技术有限公司 服务热线：0512-65163986
系统基础参数
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型号
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A-75
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A-90
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A-130
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A-150
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光源
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75kV
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90 kV
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130 kV
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150 kV
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焦点大小
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45μ
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5μ
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6μ
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5μ
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空间分辨率
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﹥10 lp/mm
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﹥40 lp/mm
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40 lp/mm
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﹥40 lp/mm
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总放大倍率-标配摄像头
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﹥24X
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﹥130X
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﹥70X
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﹥60X
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总放大倍率-高分辨率摄像头
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﹥29X
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﹥240X
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﹥130X
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﹥110X
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最大视野（可视最大区域）
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﹥2”
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﹥1.6”
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﹥2”
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﹥2”
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编程能力
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选配
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标配
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设备尺寸
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70”×50”×62”(D×W×H) （2000mm×1422mm×1575mm）
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离轴防护：可用1或2个轴夹具；检测范围：20” ×24”； 最大基板尺寸：20¼” ×24¼”
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